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    当前位置:首页 > 仪器平台 > 仪器介绍

  • 电学探针台 Probe Station

    作者:质检中心    日期:2018-10-16 09:50:05    浏览量:3625 次

    电学探针台Probe Station 型号:仪准PW-800功能:通过微探针连接到芯片并引出所需信号,用于电学特性测试。技术参数:﹡夹盘尺寸:200mm﹡探针XY电动移动行程:200mm﹡显

  • 半导体参数分析仪 Semiconductor Parameter Analyzer

    作者:质检中心    日期:2018-10-16 09:37:11    浏览量:4497 次

    半导体参数分析仪Semiconductor Parameter Analyzer 型号:美国Tektronix Keithley 4200A-SCS功能:使用4200A-SCS加快半导体设备

  • 工业显微镜 Industrial Microscope

    作者:质检中心    日期:2018-10-16 09:20:40    浏览量:2801 次

    工业显微镜Industrial Microscope 型号:日本尼康LV100ND技术参数:﹡观察方式:透射/反射/明场/暗场﹡相机:1600万像素高清彩色相机 Model: Ni

  • 比表面微孔分析仪 Surface Area and Porosity Analyzer

    作者:质检中心    日期:2018-10-16 09:14:32    浏览量:3343 次

    比表面微孔分析仪Surface Area and Porosity Analyzer 型号:日本麦奇科拜尔MicrotracBEL BELSORP-max技术参数:﹡测量范围:比表面0.00

  • 四探针电阻仪 ResMap Four Point Probe

    作者:质检中心    日期:2018-10-16 08:57:34    浏览量:3431 次

    四探针电阻仪ResMap Four Point Probe 型号:美国CDE ResMap 178技术参数:﹡测量尺寸:2~8寸晶圆﹡测量速度:大于49点/分钟﹡测量范围:1mΩ sq-1

  • 接触角测量仪 Optical Temsiometer

    作者:质检中心    日期:2018-10-15 17:37:26    浏览量:3350 次

    接触角测量仪Optical Temsiometer型号:瑞典Biolin THETA功能:测量接触角、表界面张力和表面自由能。技术参数:﹡接触角测量范围:0-180°﹡控制:自动滴样单元,高速图像观测

  • 激光粒度分析仪 Particle Size Analyzer

    作者:质检中心    日期:2018-10-15 17:26:29    浏览量:3953 次

    激光粒度分析仪Particle Size Analyzer 型号:美国Microtrac BLUEWAVE S3500技术参数:﹡测量范围:0.01-2000μm﹡测量时间:10-30秒﹡兼

  • DSC-TGA同步热分析仪 Simultaneous Thermal Analysis

    作者:质检中心    日期:2018-10-15 17:22:03    浏览量:3340 次

    DSC-TGA同步热分析仪Simultaneous Thermal Analysis 型号:德国NETZSCH STA 449F5功能:同步热分析是指利用一台仪器对同一个样品同时进行热重分析

  • 紫外可见近红外分光光度计 UV-VIS-NIR Spetrometer

    作者:质检中心    日期:2018-10-15 17:17:33    浏览量:6387 次

    紫外可见近红外分光光度计UV-VIS-NIR Spetrometer 型号:美国Perkin Elmer Lambda 950功能:具有超高紫外/可见/近红外性能,精度高,适合诸如高反和低反

  • 傅立叶变换红外光谱仪 Fourier-Transform Infrared Spectrometer

    作者:质检中心    日期:2018-09-30 09:04:32    浏览量:4069 次

    傅立叶变换红外光谱仪Fourier-Transform Infrared Spectrometer型号:日本岛津IRTracer-100技术参数:﹡光谱范围:7800~350cm-1﹡高灵敏度:S/N

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